制造商型号： | SN74BCT8240ADWR |
制造商： | TI (德州仪器) |
产品类别： | 特定功能逻辑芯片 |
商品描述： | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
供货： | 货期 工作日（7-10天） |
渠道： | 国内现货 digikey |
服务： | 锐单发货及售后，顺丰快递，在线客服 |
客服： | |
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TI(德州仪器) SN74BCT8240ADWR
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SN74BCT8240ADWR 中文资料
数据手册PDF
SN74BCT8240ADWR 规格参数
属性
参数值
制造商型号
SN74BCT8240ADWR
制造商
TI(德州仪器)
商品描述
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
包装
Tape & Reel (TR)
Alternate Packaging
系列
74BCT
零件状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with Inverting Buffers
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Surface Mount
封装/外壳
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装
24-SOIC
SN74BCT8240ADWR 引脚图与封装图
SN74BCT8240ADWR引脚图
SN74BCT8240ADWR封装图
SN74BCT8240ADWR封装焊盘图
库存： 有货
价格(含增值税)
| 数量 | 单价 | 总价 |
|---|---|---|
| 44 | 37.105594 | 1632.65 |
品牌其他型号
SN74BCT8240ADWR品牌厂家：TI
，所属分类： 特定功能逻辑芯片
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