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SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

TI(德州仪器) 主动器件

八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC


得捷:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC


贸泽:
缓冲器和线路驱动器 Device w/Octal Inverting Buffers


艾睿:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R


Chip1Stop:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R


SN74BCT8240ADWR中文资料参数规格
技术参数

位数 8

静态电流 35 mA

工作温度Max 70 ℃

工作温度Min 0 ℃

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

封装 SOIC-24

外形尺寸

长度 15.4 mm

宽度 7.52 mm

高度 2.35 mm

封装 SOIC-24

物理参数

工作温度 0℃ ~ 70℃

其他

产品生命周期 Unknown

包装方式 Tape & Reel TR

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

SN74BCT8240ADWR引脚图与封装图
SN74BCT8240ADWR引脚图

SN74BCT8240ADWR引脚图

SN74BCT8240ADWR封装图

SN74BCT8240ADWR封装图

SN74BCT8240ADWR封装焊盘图

SN74BCT8240ADWR封装焊盘图

在线购买SN74BCT8240ADWR
型号 制造商 描述 购买
SN74BCT8240ADWR TI 德州仪器 八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 搜索库存
替代型号SN74BCT8240ADWR
图片 型号/品牌/封装 代替类型 描述 替代型号对比

型号: SN74BCT8240ADWR

品牌: TI 德州仪器

封装: 24-SOIC

当前型号

八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

当前型号

型号: SN74BCT8240ADW

品牌: 德州仪器

封装: SOIC-24 4.5V to 5.5V 24Pin

完全替代

74BCT 系列,Texas InstrumentsBiCMOS TTL 逻辑 工作电压:4.5 至 5.5 兼容性:输入 LVTTL/TTL、输出 TTL ### 74BCT 系列

SN74BCT8240ADWR和SN74BCT8240ADW的区别

型号: SN74BCT8240ADWRG4

品牌: 德州仪器

封装: 24-SOIC

完全替代

特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic

SN74BCT8240ADWR和SN74BCT8240ADWRG4的区别