工作于线性区功率MOSFET:di/dt和dv/dt分开控制方法
时间:2022-08-14 03:30:01
题注:本文介绍的di/dt、dV/dt单独控制方法不仅适用于负载开关,也广泛应用于电机控制功率MOSFET或IGBT驱动电路:
(1)调整驱动电路电阻RG,调整dV/dt
(2)调整并联电容器CGS,调整di/dt
1、功率MOSFET的开关过程
功率MOSFET开放过程可分为四个阶段,关闭过程的基本原理与开放过程相似,以前的文章对其进行了非常详细的描述,N沟道功率MOSFET放在低端直接驱动的波形如图1所示。
图1:功率MOSFET的开通过程
阶段3(t2-t3)米勒平台,VGS保持米勒平台电压VGP,在整个过程中,VDS电压逐渐下降到低压值,ID电流保持不变。
若功率MOSFET高端采用N管或P管,工作原理相似,工作波形如下图2所示。
图2:N-MOSFET高端开放波形
图3:P-MOSFET放在高端
图4:P-MOSFET高端开波形
2、di/dt和dV/dt分开独立控制
从前面的分析可以看出,阶段2:t1-t在2的开启过程中,漏极电流ID不断增加,VDS保持不变,主要控制电路的电流变化率di/dt。在驱动电源VCC在确定驱动芯片的驱动能力时,驱动电路RG以及Ciss开通过程的电流变化率决定di/dt。外加G、S的电容CGS调整开通过程di/dt如图5所示。
图5:外加G、S电容CGS1开通波形
在阶段3:t2-t3的开通过程中,漏极电流ID保持不变,VDS这一过程主要控制电路的电压变化率dV/dt。在驱动电源VCC在确定驱动芯片的驱动能力时,驱动电路RG以及Crss开启过程中的电压变化率决定dV/dt。
在实际应用过程中,功率MOSFET的Crss很小,而且是非线性的,随着电压的变化而变化,变化幅度也很大,单独使用Crss和RG来控制dV/dt,dV/dt控制精度差。
如果系统的dV/dt控制精度要求较高,即输出电压上电时间的控制精度要求较高,上电时间也较长。G极和D极之间需要增加一个电容CGD1,CGD1值远大于Crss,功率MOSFET寄生在内部的非线性电容器Crss可以忽略影响,dV/dt时间主要由线性好的外加电容组成CGD1控制,你可以更准确地控制功率MOSFET的dV/dt的时间。
图6:外加G、D电容CGD1开通波形
包括G极电阻总和在内的完整外围电路RG,RG并联快关闭二极管D1,功率MOSFET的G、S外加电容CGS1,G、D外加电容CGD1和电阻RGD,如图7所示,其中RG包括功率在内的G极电阻总和MOSFET内部电阻、驱动芯片上拉电阻和外部串联电阻RG1。
图7:负载开关和热插拨完整外围电路
本文所介绍的di/dt 、dV/dt单独控制的方法也可用于其他系统,特别是电机控制应用,在电机控制系统的主功率板中MOSFET或IGBT与外部电容器并联的驱动电路CGS或CGD,调整方法与以上相同:
(1)调整驱动电路RG,调整回路dV/dt
(2)然后调整驱动电路的并联电容CGS,调整回路di/dt
本文来源于网络,参考原文:线性区功率工作MOSFET(4):di/dt和dv/dt分开控制方法