制造商型号： | SN74BCT8374ADWR |
制造商： | TI (德州仪器) |
产品类别： | 特定功能逻辑芯片 |
商品描述： | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
供货： | 货期 工作日（7-10天） |
渠道： | digikey |
服务： | 锐单发货及售后，顺丰快递，在线客服 |
客服： | |
提示： | 联系在线客服，获得更多SN74BCT8374ADWR价格库存等采购信息！ |
TI(德州仪器) SN74BCT8374ADWR
图像仅供参考
请参阅产品规格
请参阅产品规格
SN74BCT8374ADWR 中文资料
数据手册PDF
SN74BCT8374ADWR 规格参数
属性
参数值
制造商型号
SN74BCT8374ADWR
制造商
TI(德州仪器)
商品描述
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
包装
Tape & Reel (TR)
Alternate Packaging
系列
74BCT
零件状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Surface Mount
封装/外壳
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装
24-SOIC
SN74BCT8374ADWR 引脚图与封装图
SN74BCT8374ADWR引脚图
SN74BCT8374ADWR封装图
SN74BCT8374ADWR封装焊盘图
品牌其他型号
SN74BCT8374ADWR品牌厂家：TI
，所属分类： 特定功能逻辑芯片
，可在锐单商城现货采购SN74BCT8374ADWR、查询SN74BCT8374ADWR代理商； SN74BCT8374ADWR价格批发咨询客服；这里拥有
SN74BCT8374ADWR中文资料
、引脚图、Datasheet数据手册、pdf功能说明书、规格参数、现货库存、封装信息、产品选型手册，还可快速找到
SN74BCT8374ADWR替代型号
、
SN74BCT8374ADWR数据手册PDF。