制造商型号： | SN74ABT8952DWR |
制造商： | TI (德州仪器) |
产品类别： | 特定功能逻辑芯片 |
商品描述： | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
供货： | 货期 工作日（7-10天） |
渠道： | digikey |
服务： | 锐单发货及售后，顺丰快递，在线客服 |
客服： | |
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TI(德州仪器) SN74ABT8952DWR
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SN74ABT8952DWR 中文资料
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SN74ABT8952DWR 规格参数
属性
参数值
制造商型号
SN74ABT8952DWR
制造商
TI(德州仪器)
商品描述
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
包装
Cut Tape (CT)
系列
74ABT
零件状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装/外壳
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装
28-SOIC
品牌其他型号
SN74ABT8952DWR品牌厂家：TI
，所属分类： 特定功能逻辑芯片
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