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NTD3055L104T4G、STD12NF06LT4、RFD14N05LSM对比区别

P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料

型号 NTD3055L104T4G STD12NF06LT4 RFD14N05LSM

描述 ON SEMICONDUCTOR  NTD3055L104T4G  晶体管, MOSFET, N沟道, 12 A, 60 V, 0.089 ohm, 5 V, 1.6 VSTMICROELECTRONICS  STD12NF06LT4  晶体管, MOSFET, N沟道, 12 A, 60 V, 80 mohm, 10 V, 3 VN 通道 MOSFET, Fairchild Semiconductor增强模式场效应晶体管 (FET) 使用了 Fairchild 的专利高单元密度的 DMOS 技术进行生产。 这种高密度工艺设计用于尽量减小通态电阻,提供耐用可靠的性能和快速切换。### MOSFET 晶体管,Fairchild SemiconductorFairchild 提供大量 MOSFET 设备组合,包括高电压 (>250V) 低电压 (Fairchild MOSFET 通过降低电压峰值和过冲提供极佳的设计可靠性,以减少结电容和反向恢复电荷,无需额外外部元件即可保持系统启动和运行更长时间。

数据手册 ---

制造商 ON Semiconductor (安森美) ST Microelectronics (意法半导体) Fairchild (飞兆/仙童)

分类 MOS管MOS管MOS管

基础参数对比

安装方式 Surface Mount Surface Mount Surface Mount

引脚数 3 3 3

封装 TO-252-3 TO-252-3 TO-252-3

额定电压(DC) 60.0 V 60.0 V 50.0 V

额定电流 12.0 A 12.0 A 14.0 A

通道数 1 - -

针脚数 4 3 3

漏源极电阻 0.089 Ω 0.08 Ω 100 mΩ

极性 N-Channel N-Channel N-Channel

耗散功率 48 W 30 W 48 W

阈值电压 1.6 V 3 V 2 V

漏源极电压(Vds) 60 V 60 V 50 V

漏源击穿电压 60 V 60.0 V 50.0 V

栅源击穿电压 ±15.0 V ±16.0 V ±10.0 V

连续漏极电流(Ids) 12.0 A 12.0 A 14.0 A

上升时间 104 ns 35 ns 24 ns

输入电容(Ciss) 440pF @25V(Vds) 350pF @25V(Vds) 670pF @25V(Vds)

额定功率(Max) 1.5 W 30 W 48 W

下降时间 40.5 ns 13 ns 16 ns

工作温度(Max) 175 ℃ 175 ℃ 175 ℃

工作温度(Min) -55 ℃ -55 ℃ -55 ℃

耗散功率(Max) 1.5 W 42.8W (Tc) 48 W

额定功率 - - 14 W

输入电容 - 350 pF 670 pF

栅电荷 - - 40.0 nC

长度 6.73 mm 6.6 mm 6.73 mm

宽度 6.22 mm 6.2 mm 6.22 mm

高度 2.38 mm 2.4 mm 2.39 mm

封装 TO-252-3 TO-252-3 TO-252-3

工作温度 -55℃ ~ 175℃ (TJ) -55℃ ~ 175℃ (TJ) -55℃ ~ 175℃ (TJ)

产品生命周期 Active Active Active

包装方式 Tape & Reel (TR) Tape & Reel (TR) Tube

RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free Lead Free Lead Free

REACH SVHC标准 No SVHC No SVHC No SVHC

REACH SVHC版本 - 2015/12/17 2015/06/15

ECCN代码 EAR99 EAR99 EAR99