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SN74BCT8240ADWE4、SN74BCT8240ADWRG4、5962-9174601QLA对比区别

P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料

型号 SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWRG4 5962-9174601QLA

描述 八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

数据手册 ---

制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)

分类 逻辑芯片逻辑芯片逻辑芯片

基础参数对比

安装方式 Surface Mount Surface Mount Through Hole

封装 SOIC-24 SOIC-24 CDIP

引脚数 24 - 24

位数 - 8 8

电源电压 - 4.5V ~ 5.5V -

电源电压(DC) 4.50V ~ 5.50V - 4.50V ~ 5.50V

输出接口数 8 - 8

传送延迟时间 9.00 ns - 9.00 ns

电压波节 5.00 V - 5.00 V

输出电流驱动 -234 µA - -234 µA

封装 SOIC-24 SOIC-24 CDIP

工作温度 - 0℃ ~ 70℃ -55℃ ~ 125℃

产品生命周期 Active Unknown Active

包装方式 Tube Tape & Reel (TR) Tube

RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant Non-Compliant

含铅标准 Lead Free Lead Free Contains Lead