特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic
扫描测试设备，带反相缓冲器 IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
贸泽:
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic
Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC / Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
| 图片 | 型号 | 厂商 | 下载 |
|---|---|---|---|
 | SN74BCT8240ADWRG4 | TI 德州仪器 | |
 | SN74CB3T3383DW | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBT16212ADLRG4 | TI 德州仪器 | |
 | SN74CB3T3383DWR | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBTLV3383PW | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBT16212AZQLR | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBT3383DBQR | TI 德州仪器 | |
 | SN74CB3T3383PW | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBTLV3383PWE4 | TI 德州仪器 | |
 | SN74CBT3383DBR | TI 德州仪器 | |
 | SN74CB3T3383PWR | TI 德州仪器 |
