SN74BCT8373ADWRG4
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic
扫描测试设备,带 D 型锁存器 IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
贸泽:
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic
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扫描测试设备,带 D 型锁存器 IC 24-SOIC
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IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
贸泽:
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图片 | 型号 | 厂商 | 下载 |
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