HPS-CF4000光谱共焦位移传感器双头测厚校准流程
时间：2022-11-23 19:30:01
HPS-CF4000光谱共焦位移传感器双头测厚校准过程
- 前言
- 一、软件环境配置
- 二、双头测厚校准流程
- 三、准备双头测厚测试
- 四、 厚度试验过程(不透明物体)
前言
最近工作有一点变动，新增了部分自动化控制的内容，解出来很多仪器设备，网上的资料也都不多，记录一下自己调试历程。文章大部分都是参考公司所给出的软件手册进行调试，补充了一部分自己调试遇到的问题和解决方法。一方面防止自己遗忘，一方面也帮助有同样工程任务的朋友少走弯路。我也是初入门，所以欢迎交流。
提示：以下是本文的主要内容
一、软件环境配置
Hypersen Confocal Studio 可与海伯森技术(深圳)合作 有限公司生产的高精度光谱共焦传感器（HPS-CF 系列） 使用， 方便客户快速完成传感器的测量以及各种参数的设定。
公司给出的软件环境配置文件非常详细，基本没有问题。按说明来。
二、双头测厚校准流程
正式校准前，基本对准测试头，连接计算机和设备，启动软件，点击双通道。
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先进行DARK。包住两个测试头，单击dark1，dark2。
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校准：点击 校准图标，图标位置如下图所示。
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调整x,y轴的倾斜角使上下传感器头支架水平
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调整光轴，调整x,y方向(银色旋钮)使光斑在薄膜中重叠
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去除薄膜反射板，微调x,y确保左右显示框只有一个信号峰值
注：薄膜反射板移除后，显示框将显示两个信号峰值，此时基本对齐，只需微调x,y如果图中没有信号，可以获得峰值：
1) 两个光斑没有重叠，重复步骤5，调整x,y轴；
2) 对于积分时间和光源强度，可以先增加光源强度，增加积分时间，使光源粗对准，调整到峰值，然后重复调整xy(一般预设积分时间4000us）
3) 水平没有调平，传感器底盘轻微晃动，看信号变化。如果信号变强，说明光源已经对齐，但z轴俯仰有问题，需要调整水平。
- 归零:校准完成后，需要单击zero，进行归零。
调整后整后进行测量。此时，光源将调整为自动模式，并根据测量对象的形状和材料自动变化 。
注意：zero校准结束后，无需单击校准按钮。因为在将光源设置为自动模式后，如果单击校准按钮，光源的照明亮度会发生变化，影响数据输出。
三、准备双头测厚测试
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打开软件 ，选CF连接4000设备
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切换用户模式， 包括操作员、用户和管理员模式； 默认为操作员 模式， 请输入用户以打开更多功能 模式， 【用户】 该模式需要输入密码【Hypersen】。
注：所有功能都需要用户 在模式下操作。
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选择双通道测厚
测量值翻转和输出测量点的绝对距离仅用于单通道。检查翻转 翻转测量值(通常用于编码器) 。勾选【ABS】 输出测量值的绝对距离（【Zero】 失效）。
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相关数据统计结果可在右侧数据区查看
All Data显示从开始到现在的所有数据
Selectd显示鼠标拖动区域内的数据
Window这意味着当前窗口区域的数据
(最大值/最小值/峰值/平均值/标准差/参与统计的有效点) -
光源调节：正常测量信号强度高于20%，接近50%
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滤波选择：
当滤波器物体快速移动测试时，结果会平稳。包括滑动中值滤波器， 滑动均值滤波器， 卡尔曼滤波器和异常数据滤波器， 选择指定通道进行配置。 在【功能菜单】 =>【配置】 =>【滤波器】 配置。
根据需要选择合适的滤波器。
四、 厚度试验过程(不透明物体)
测量前， 检查传感头固定夹具是否调好， 对齐光轴。 检查主峰选择是否为预测。
步骤 1： 选择功能菜单 =>【测量】 =>【多通道】 =>【双通道】 =>选择需要观察的通道结果=>在通道结果下选择测量模式【Thickness】 。
步骤 2： 检查触发模式 是否在【Timing Trigger】 模式。
步骤 3： 配置光信号强度 (可使用自动调光) 、 配置【测量速率】 =>【使能】 =>输入速率， 点击设置 、 信号检测阈值 (必须确保检测到 1 个波峰）。
步骤 4： 选择主界面【Opacity】 模式， 切换为不透明物体测量模式(默认)。
步骤 5： 点击开始 进行测量。
注：
- 选择合适的单位。在主界面上显示测量结果和 2 信息距离、信号强度等信息， 若固件夹具调整不当导致固定偏差， 可使用偏置 进行补正。
- 两个通道的信号强度差不宜过大， 输出过大的结果是- 。 调光设置为自动调光， 两个通道之一的信号强度是 100%是正常现象。
不忘初心，不怕未来，加油！
