Fluke 1550C、FLUKE 1555高压绝缘电阻测试仪

测量工具:Fluke 1550C高压绝缘电阻测试仪

操作人员:ASI Robicon，高功率VFD制造商

实施测试：可控硅整流器电压、可控硅整流器热试验IGBT开关、电容

ASI Robicon Perfect Harmony水冷变频驱动(VFD)。

Tom Lasek是ASI Robicon该公司是领先的高功率固态变频驱动制造商，支持高达2万 HP工业交流电机的输入电压高达13800 V。Lasek其职责包括安装/调试高功率驱动系统、一般预防、维护和故障诊断。他几乎每天都使用Fluke 1550C高压绝缘电阻测试仪：

• 公司系统的调试和启动采用绝缘电阻测试和文件记录。
• 对高功率驱动中的高压元件进行故障诊断。

本案例将详细介绍高压元件Lasek在他30多年的职业生涯中开发的电容测试方法。

1550C作为高压元件测试仪，Lasek能及时发现有缺陷的部件，防止其故障。预防早期故障可以是ASI Robicon它还可以为客户节省时间和金钱。

可控硅整流器电压试验

Fluke 1550C高压绝缘电阻测试仪能快速确定高功率固态电源中非线性装置的相对质量/薄弱环节：SCR (可控硅整流器半导体)和IGBT高功率设备。一般固态元件测试仪采用低压、低电流测试源，通常无法定位损坏的元件，特别是在负载下。

方法

1. 将元件与所有连接隔离，确保读数准确。
2. 在1550C设置高压，开始测试并记录读数。

可控硅整流器读数示例。

结果

• 如果可控硅整流器在测试正向偏压和反向偏压(阳极至阴极)时损坏，读数会有很大差异。
• 新型可控硅整流器在两个方向的读数几乎相等(约100 MW)。
• 如果高功率可控硅整流器的读数低于5 MW，这意味着它已经损坏，应该被废弃。li>
• 如果可控硅整流器朝一个方向读数为50 MW至200 MW，另一个方向是10 MW至50 MW (差异达到4:1)，携带时可能会自锁(而不是在预期触发点及时触发，会随机触发打开)。这种情况很糟糕。它会在电源中引起极端的电流脉冲，导致电源直流电机中的换向器闪络。

可控硅整流器热试验

如果元件有物理损坏，则需要取出并进行热试验。

方法

1. 将Fluke 1550C设置为设备的实际额定电压。 V VFD 大部分用于变频驱动(变频驱动)ASI Robicon 可控硅整流器的额定值为1400 V。在中压(2300 V和4160 V)30000驱动也串联使用 V装置。
2. 当装置温度较低时，读取正反读数。
3. 在高温箱中加热元件至180 °F，并重复测试。

结果

若泄漏高达50 %或更大，必须废弃设备。

传统上，在测试可控硅整流器时，如果没有完全短路，则认为没有问题。Lasek这个假设是完全错误的。ASI Robicon在维修可控硅整流器电源时，其目标是最大限度地减少故障和停机时间，而不是最大限度地降低维修部件的成本。

当任何装置达到额定电压时，如果读数表现为变化、波动和不稳定，则应认为即将发生故障并隔离。读数不稳定意味着内部电弧损坏，或半导体本身锁定/导通。

IGBT开关装置测试

IGBT开关装置也可以进行热试验，但由于二极管的负阻特性，只能在一个方向（正）进行检查。高功率二极管也可以进行热试验（低温和高温读数的变化）。一般来说，与可控硅整流器（读数一般为200 MW至700 MW)，二极管的电阻得多，漏电流小得多。

如果可控硅整流器的读数在两个方向都是20 MW，则没有问题；但如果一个方向读数为80 MW，另一个方向是20 MW，这意味着它即将失败。全新可控硅整流器的读数通常在两个方向都是100 MW至200 MW，两个方向的区别是50 %之内。

电容测试

Lasek还利用1550C高压电容器的可调电压功能测试。

方法

充电几个完全相同的电容器，并将其充电到类似读数所需的时间。

电容读数示例。

结果

• 若电容充电极快，则可能已开路。
• 若读数上下重复，则表示电容内部可能发生闪络。

请拆下并更换设备。