霍尔样品测量选项及低电阻测量选项的好处
时间：2022-07-03 01:30:00
84006 室温光接入体，带顶光接入体
光学访问允许您通过激光或光纤将样品暴露在不同波长的光下。84006 选择是一种标准的室温主体HMS 样品插入增加顶部光学访问功能。
84060 样品顶部光学接入套件必须单独订购。
样品旋转选项 ° 到 360° 向您添加手动样品旋转HMS。可作为标准轻密阀或 84015 单点 LN提供2个阀体的选项。(它是 84016 CCR 和 84017 柱温箱的标准配置。)样品旋转适用于 10 毫米大小的样品卡。与 50 毫米卡不兼容。
84031 高阻
半绝缘 GaAs、光电探测器和固态 X 射线探测器等材料的特点是电阻很高，传统的霍尔效应测量系统很难测量。高电阻选项将 HMS 的电阻测量能力扩展到 200 GΩ(直流测量)和 8 GΩ(交流测量)。当此选项添加到您的系统中时，静电计级缓冲器用于减少负载，信号引线中的保护可以减少泄漏电流的影响。当你高的时候在您的配置中添加电阻测量选项时，在霍尔效应测量系统中测量高电阻样品的挑战是无与伦比的。
84032 栅极偏置
为材料添加格栅极端子可以提高霍尔测量的灵活性。例如，格栅极电压可用于控制材料的载流子密度。使用此选项，格栅极偏置电压可设置为用户确定的值。然后可以使用标准交流或直流霍尔测量和电阻率测量。
84033低阻
金属、超导体和其他一些材料的特点是电阻低，有时在霍尔测量系统中很难测量。这是因为它低于1 Ω，样品两端的电压变得太小，无法可靠测量。从理论上讲，简单地增加电流来增加采样电压似乎用，但这很少是可行的选择。这可能会导致自热并损坏您的样品。虽然电流反向和测量平均可以消除这些影响，但可能需要很长时间才能达到所需的分辨率。因此，这种方法可能既低效又不可靠。
最佳解决方案是 84033 低电阻测量选项。它扩展了直流场霍尔测量的低电阻测量功能，使您能够自信地测量 HMS 中电阻样品或热电材料。例如，在测量某些金属时，它会 DC 测量的电阻本底噪声从 100 nV 降至 3 nV（在 100 mA 时从 1 μΩ 减少到 0.03 μΩ）。该选项可随时添加到现场系统中(但不能与 84030 相匹配AC 同时使用现场测量选件)。
霍尔低电阻测量选项的优点
霍尔效应测试系统提供尽可能宽的电阻范围
霍尔测量系统中有时很难测量金属、超导体和其他具有低电阻特性的材料。为此，我们为8400 系列 HMS 84033 低电阻测量选项DC 测量的电阻本底噪声从 100 nV 降至 3 nV（在 100 mA 时从 1 μΩ 到 0.03 μΩ），用户可以自信地测量 HMS 中的低电阻样品或热电材料。84033 选项还可以提高某些标准的质量电阻测量。低电阻操作降低了霍尔测量的频率带宽，从而降低了电压噪声，以获得更好的信噪比。因此，标准电阻材料的直流场霍尔测量速度可提高 2 倍，测量稳定性更高。
