SN74LVTH18502APM
TEXAS INSTRUMENTS SN74LVTH18502APM 芯片, 逻辑电路 - 扫描测试器
74LVTH 系列，Texas Instruments
高级低电压 BiCMOS 逻辑
工作电压：2.7 至 3.6
输入的总线保持功能无需较大的上拉电阻。
兼容性：输入 LVTTL/TTL，输出 LVTTL
得捷:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
立创商城:
SN74LVTH18502APM
德州仪器TI:
3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers
欧时:
### 74LVTH 系列，Texas Instruments高级低电压 BiCMOS 逻辑 工作电压：2.7 至 3.6 输入的总线保持功能无需较大的上拉电阻。 兼容性：输入 LVTTL/TTL，输出 LVTTL ### 74LVTH 系列
贸泽:
特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver
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TEXAS INSTRUMENTS SN74LVTH18502APM 芯片, 逻辑电路 - 扫描测试器
艾睿:
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
安富利:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray
Chip1Stop:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray
Verical:
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray
Newark:
# TEXAS INSTRUMENTS SN74LVTH18502APM Scan Test Device, 9 Channels, 2.7 V to 3.6 V, LQFP-64
DeviceMart:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
