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S-2-E-4-G

S-2-E-4-G

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IDIInterconnect Devices 电子元器件分类

INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB

Size 2, 0.100 Centerline, Spring Contact, Test Probe Use Spring Probes to maximize your testing efficiency, Short Stroke Probes are ideal for bare Board testing of conventional or SMT PCBs.

* Tip Style: Convex Tip

* Maximum Travel: 0.160 4.06 In.mm

* Spring Force: 4.0 Oz. @ 0.100 2.54 In.mm


e络盟:
# INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB


Allied Electronics:
Spring Contact Probe .100 size 2 centerline spacing 90 degree convex


Newark:
# INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  SPRING CONTACT PROBE, PCB


S-2-E-4-G中文资料参数规格
技术参数

触点电镀 Gold

额定电流 3 A

外形尺寸

长度 24.64 mm

物理参数

触点材质 Nickel

符合标准

RoHS标准 Non-Compliant

S-2-E-4-G引脚图与封装图
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型号： S-2-E-4-G

品牌： IDIInterconnect Devices

封装：

当前型号

INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB

当前型号

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品牌： IDIInterconnect Devices

封装：

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