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SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

TI(德州仪器) 主动器件

八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC


得捷:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC


贸泽:
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Type Latches


Chip1Stop:
Latch Transparent 3-ST 8-CH D-Type 24-Pin SOIC T/R


SN74BCT8373ADWR中文资料参数规格
技术参数

电源电压DC 5.50V max

输出电流 64.0 mA

位数 8

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

引脚数 24

封装 SOIC-24

外形尺寸

封装 SOIC-24

物理参数

工作温度 0℃ ~ 70℃

其他

产品生命周期 Unknown

包装方式 Tape & Reel TR

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

SN74BCT8373ADWR引脚图与封装图
SN74BCT8373ADWR引脚图

SN74BCT8373ADWR引脚图

SN74BCT8373ADWR封装图

SN74BCT8373ADWR封装图

SN74BCT8373ADWR封装焊盘图

SN74BCT8373ADWR封装焊盘图

在线购买SN74BCT8373ADWR
型号 制造商 描述 购买
SN74BCT8373ADWR TI 德州仪器 八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 搜索库存
替代型号SN74BCT8373ADWR
图片 型号/品牌/封装 代替类型 描述 替代型号对比

型号: SN74BCT8373ADWR

品牌: TI 德州仪器

封装: 24-SOIC 5.5V 24Pin

当前型号

八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

当前型号

型号: SN74BCT8373ADWRG4

品牌: 德州仪器

封装: 24-SOIC 5.5V 24Pin

完全替代

特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic

SN74BCT8373ADWR和SN74BCT8373ADWRG4的区别

型号: SN74BCT8373ADW

品牌: 德州仪器

封装: SOIC-24 4.5V to 5.5V 24Pin

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