厂家： -

逻辑类型： Embedded Test-Bus Controllers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： -40°C ~ 85°C (TA)

封装/外壳： 114-LFBGA

厂家： -

逻辑类型： 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 96-LFBGA

厂家： -

逻辑类型： 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 96-LFBGA

厂家： -

逻辑类型： 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 176-BGA

厂家： -

逻辑类型： 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 176-BGA

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Incident-Wave Switching Bus Transceivers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceivers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 96-LFBGA

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceivers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Addressable Scan Ports

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Addressable Scan Ports

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceivers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceivers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.7V ~ 1.9V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 96-LFBGA

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： 1:2 Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.25V, 1.35V, 1.5V

工作温度： -

封装/外壳： 176-TFBGA

厂家： -

逻辑类型： 1:2 Registered Buffer with Parity

电源电压： 1.25V, 1.35V, 1.5V

工作温度： -

封装/外壳： 176-TFBGA

厂家： -

逻辑类型： ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压： 2.7V ~ 3.6V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 64-LQFP

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 56-VFQFN Exposed Pad

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

电源电压： 2.3V ~ 2.7V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Memory Decoder

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： 0°C ~ 75°C

封装/外壳： 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

电源电压： -

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

电源电压： -

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： IEEE STD 1284 Translation Transceiver

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： IEEE STD 1284 Translation Transceiver

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

电源电压： -

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 20-SSOP (0.209", 5.30mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

电源电压： -

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 20-DIP (0.300", 7.62mm)

厂家： -

逻辑类型： Bus Termination Array

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： IEEE STD 1284 Translation Transceiver

电源电压： 3V ~ 3.6V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Voltage Clamp

电源电压： -

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Voltage Clamp

电源电压： -

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Voltage Clamp

电源电压： -

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Voltage Clamp

电源电压： -

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 24-SSOP (0.154", 3.90mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Crystal Oscillator Driver

电源电压： 1.65V ~ 5.5V

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 8-VFSOP (0.091", 2.30mm Width)

厂家： -

逻辑类型： IEEE STD 1284 Translation Transceiver

电源电压： 3V ~ 3.6V

工作温度： 0°C ~ 70°C

封装/外壳： 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Voltage Clamp

电源电压： -

工作温度： -40°C ~ 85°C

封装/外壳： 24-TFSOP (0.173", 4.40mm Width)

厂家： -

逻辑类型： Binary Full Adder with Fast Carry

电源电压： 4.5V ~ 5.5V

工作温度： -55°C ~ 125°C

封装/外壳： 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)